电能表高温老化房主要功能：为了达到满意的合格率，几乎所有产品在出厂前都要先经由电能表老化测试。制造商如何才能够在不缩减老化时间的条件下提高其效率?本文介绍在老化过程中进行功能测试的新方案，以降低和缩短老化过程所带来的成本和时间问题。
电能表高温老化房在半导体业界，器件的老化问题一直存在各种争论。像其它产品一样，半导体随时可能因为各种原因而出现故障，电能表老化就是通过让半导体进行超负荷工作而使问题在短时间内出现，避免在使用早期发生故障。如果不经老化测试，很多半导体成品由于器件和制造制程复杂性等原因在使用中会产生很多问题。
在开始使用后的几小时到几天之内出现的问题（取决于制造制程的成熟程度和器件总体结构）称为早期故障，电能表老化之后的器件基本上要求100%剔除由这段时间造成的故障。准确确定老化时间的方法是参照以前收集到的老化故障及故障分析统计数据。
